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Contrôle non destructif. Nouvelles sources et techniques d’imagerie : une quête de la résolution, pénétration et détection

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Le contrôle non-destructif (CND) est un des enjeux majeurs du monde actuel. Ceci est d’autant plus vrai pour les secteurs à forte valeur ajoutée, comme l’aéronautique, le nucléaire, le pétrolier et la microélectronique. Pour faire face à un besoin incessant d'accroître les compétences et l’efficience en CND, nous avons conçu un programme d’imagerie allant des sciences de la matière jusqu’à l’analyse des images en passant par la formation physique de ces dernières. Les techniques évoquées se situent à la frontière technologique et l’accent sera mis sur l’amélioration de la résolution, la pénétration et la détection.

  • Dates :26 et 27 novembre 2018 - 20 et 21 juin 2019
  • Durée :2 jours
  • Pour qui :Directeur technique, Chefs de projets, Ingénieur recherche, Ingénieur d'étude, Ingénieurs brevet, Chercheur, Responsable de départements « recherche et innovation », Responsable en contrôle non-destructif, Responsable en veille technologique.
  • Lieu :Ecole Polytechnique Executive Education
  • Tarif :1400 € HT
  • Code :CND

Objectifs

  1. Expliquer la physique de sources ultrabrèves et présenter leurs applications novatrices en imagerie.
  2. Expliquer comment prendre en compte de propriétés de matières pour choisir les meilleurs modes d’imagerie.
  3. Montrer les fonctionnements de la tomographie numérique X à haute énergie et haute résolution.
  4. Expliquer les hautes performances de l’imagerie ellipsométrique pour l’étude des interfaces.
  5. Présenter les principes de l’imagerie acoustique par la diffraction en temps de vol
  6. Montrer des exemples issus des secteurs des transports terrestres, de l’aéronautique, de l’énergie et de la microélectronique.

Programme

Jour 1

MATIN  - Introduction aux techniques du CND et à la science des défauts de la matière (2 heures)
-   Découvrir le CND (méthodes et techniques)
-   La caractérisation industrielle des défauts
-   La radiographie numérique

Frédéric JENSON

 

Application des sources ultrabrèves pour l’imagerie (1 heures)
-   Interaction laser-matière
-   Technologie des lasers ultra-courts.
-  Nouvelles sources de lumière ou de particules (laser, THz, X, gamma, électrons, protons) pour l’imagerie

Jérôme FAURE

 

APRES-MIDI - Tomographie numérique X à haute énergie et haute résolution (3 heures)
-  Nouvelles sources X par interaction laser-plasma pour le CND avec une visite de plateforme SHERIL
-   Initiation à la modélisation et détection des micro-défauts dans les matériaux
- Développement d’un jumeau numérique : vers une plateforme 4.0 de tomographie par accélérateur laser-plasma.

François SYLLA

 

Jour 2

MATIN -  Imagerie optique et magnétique (3 heures)
-   Propagation des ondes, la polarisation et la méthode de la matrice de transfert
-   Caractérisation des interfaces et des couches minces par l'ellipsométrie avec des démonstrations, simulations numériques et études de cas industriels
-   Haute résolution de localisation de défauts enfouis par l’imagerie magnéto-optique

Feng YANG

 

APRES-MIDI - Imagerie acoustique et résolution de problèmes inverses non-linéaires (1 heure)
-   Principes de l’imagerie acoustique
-   Résolution de problèmes inverses non-linéaires
-   La diffraction en temps de vol (TOFD) pour l’inspection des soudures

Hervé CHAURIS

 

Algorithmes en traitement des images pour le contrôle non-destructif (2 heures)
-   Méthodes et outils pour le traitement des images
-   Apprentissage supervisé et non supervisé pour la détection de défauts
-   Exemples industriels concrets (détection de fissure dans des pièces métalliques, vieillissement de   route et segmentation automatique de matériaux granulaires)

Petr DOKLADAL

Discussion, bilan et clôture

François SYLLA, Feng YANG

  1. Titre: 
    Compétences acquises à l’issue de la formation
    Texte: 
    • Acquérir une vue d’ensemble des différentes techniques d’imagerie, permettant de faire les meilleurs choix industriels.
    • Comprendre l’intérêt de l’approche laser-plasma pour la détection de défauts micrométriques dans des pièces épaisses par tomographie numérique.
    • Savoir utiliser l’imagerie ellipsométrique pour caractériser les interfaces et les couches minces.
    • Comprendre l’imagerie acoustique et son potentiel pour le CND.
    • Connaître les algorithmes en traitement des images pour le CND.
  2. Titre: 
    Méthodes pédagogiques
    Texte: 
    • Apports conceptuels et méthodologiques illustrés par des exemples industriels concrets.
    • Simulation numérique pour comprendre les phénomènes physiques mis en jeux.
    • Contact direct avec des équipements de recherche de pointe par deux visites avec des démonstrations.

Intervenants

  1. Responsable scientifique
    François
    Président de la société SourceLAB - Laboratoire d'Optique Appliquée (LOA) - CNRS - Ecole Polytechnique – ENSTA
  2. Responsable scientifique
    YANG
    PDG de la société INVISENSING, hébergeant à l’Ecole Nationale Supérieure des Mines de Paris.
  1. Intervenant(s)
    Jérôme
    Directeur de recherche au CNRS, Responsable du groupe « application des sources ultrabrèves à la physique des solides » à l’École Nationale Supérieure de Techniques Avancées.
  2. Intervenant(s)
    Frédéric
    Responsable de l’équipe « Contrôle Non-Destructif » à SAFRAN
  3. Intervenant(s)
    Hervé
    Responsable de l’équipe géophysique et Professeur à l’Ecole Nationale Supérieure des Mines de Paris
  4. Intervenant(s)
    Petr
    Ingénieur de recherche au Centre de Morphologie Mathématique à l’Ecole Nationale Supérieure des Mines de Paris

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